TLA7000 逻辑分析仪
用于实时数字系统分析的突破性解决方案。
模块化 TLA7000 逻辑分析仪系列为微处理器和内存设计提供了捕获逻辑细节所需的速度和灵活性。只需一只探头，即可定位难检错误的源头，获得方便易读大显示器所具备的可视性、快速的数据吞吐量以及模拟和数字信号的时间相关视图。
功能 |
优势 |
| MagniVu™ 采集 | 所有通道上有更高的采样分辨率（高达 20 ps），在时基或状态采集模式中可完全避免错过事件。 |
| iCapture™ 复用 | 通过单个逻辑分析仪探头，在数字和模拟同时采集时避免双探。 |
| 标示毛刺 | 独特的功能同时显示发生毛刺时的时间和通道，无需手动搜索所有通道。 |
| TS/TH 违例触发 | 实时违例触发可自动采集间歇性建立和保持违例，消除监视电路输出时的耗时复杂工作。 |
| iView™ 显示 | 一台显示器上显示时间相关的集成模拟和数字数据，获得完整的系统信息。 |
| iVerify™ 分析 | 使用示波器生成的图形通过多通道总线分析快速查找信号完整性问题。 |
| 自动测量 | 通过测量方便概述设计的性能：频率、周期、脉宽、占空比和边沿计数。 |
| 拖放式触发 | 通过简单直观的触发设置，快速隔离事件。触发包括：通道边沿、通道值、总线值、多组值、毛刺、建立和保持违例、或在任何方面触发。 |
